一、物流管理測(cè)試用例編寫

在編寫測(cè)試用例之前，你得想好有哪些前置條件。這些前置條件滿足了才能達(dá)到你得預(yù)期。比如賬號(hào)密碼登錄，前置條件時(shí)賬號(hào)和密碼同時(shí)正確才能正常登錄成功。那么此時(shí)你就得編寫條件不符的時(shí)候，是否也會(huì)成功。如果成功了，那就屬于BUG，需要技術(shù)進(jìn)行修復(fù)。

一般正常情況，請(qǐng)考慮一下幾個(gè)方面：

頁(yè)面布局是否合理，如導(dǎo)航欄上面應(yīng)該顯示三個(gè)按鈕，實(shí)際上卻顯示了兩行。頁(yè)面文字描述是否準(zhǔn)確，如氣泡提示：密碼格式錯(cuò)誤，請(qǐng)重新輸入。實(shí)際上卻顯示：賬號(hào)密碼錯(cuò)誤。如果有加載規(guī)則，是否符合加載規(guī)則。如：進(jìn)入頁(yè)面加載20條內(nèi)容，實(shí)際上卻加載了10條。如果有排列規(guī)則，是否符合排列規(guī)則。如應(yīng)按照時(shí)間倒序排列，實(shí)際上卻是正序排列。操作是否符合要求，如單擊某個(gè)點(diǎn)，是否準(zhǔn)確跳轉(zhuǎn)或顯示內(nèi)容。如本應(yīng)該進(jìn)行跳轉(zhuǎn)，實(shí)際上卻未進(jìn)行跳轉(zhuǎn)。輸入框輸入的內(nèi)容是否有符合格式要求。如：賬號(hào)不允許”,”,而實(shí)際上卻允許了。輸入的內(nèi)容是否符合合法性要求。如：賬號(hào)密碼是否一致等問題?！?p style="text-indent: 2em;">這些基本考慮內(nèi)容都需要考慮進(jìn)來。

大概理清楚需要考慮的內(nèi)容之后，就可以開始動(dòng)手寫了。

序號(hào)： 不用說，就是按順序下去的。模塊：該功能點(diǎn)具體屬于哪個(gè)模塊的，填寫這個(gè)主要是方便查找，如：注冊(cè)/登錄模塊編號(hào)：對(duì)每個(gè)用例進(jìn)行編號(hào)，方便后期跟進(jìn)。畢竟用文字說，容易口誤。不過此處建議編號(hào)設(shè)計(jì)的有點(diǎn)規(guī)則，方便快速定位查找。如：A0001。其中A表示注冊(cè)/登錄模塊。00表示賬號(hào)登錄，01 表示賬號(hào)密碼登錄下的名列前茅個(gè)測(cè)試用例。功能點(diǎn)：具體指某個(gè)功能，如：賬號(hào)登錄、首頁(yè)、發(fā)布等。子功能點(diǎn)：具體指功能點(diǎn)，如：賬號(hào)密碼登錄、手機(jī)驗(yàn)證碼登錄、郵箱登錄、第三方授權(quán)登錄等。用例名稱：具體測(cè)試用例的名稱。如：輸入賬號(hào)、輸入密碼、密碼不合規(guī)等等。前置條件：指要達(dá)到預(yù)期測(cè)試結(jié)果，需要滿足那些條件才能達(dá)到。如：賬號(hào)密碼不一致時(shí)，就需要登錄失敗，那么此時(shí)就得保
證賬號(hào)正確或密碼正確以及賬號(hào)正確時(shí)是存在的。操作步驟：指要達(dá)到預(yù)期測(cè)試結(jié)果，需要按這些步驟來。較好說明在什么頁(yè)面，點(diǎn)擊或操作什么內(nèi)容，輸入什么內(nèi)容。預(yù)期結(jié)果：說明按照前面寫的應(yīng)該呈現(xiàn)出怎樣的結(jié)果。測(cè)試結(jié)果：如果符合預(yù)期結(jié)果，直接填寫正?；騉K，如果不符合，則說明不符合或NO，結(jié)果描述：如果正常，可以不用填寫，如果不符合預(yù)期結(jié)果，則說明哪里不符合。測(cè)試人員：填寫測(cè)試人的名字，方便后期跟蹤BUG。測(cè)試日期：填寫測(cè)試的時(shí)間，方便后期查詢。BUGID：跟測(cè)試編號(hào)一樣，自己設(shè)定ID規(guī)則，方便快速查詢。BUG負(fù)責(zé)人：此處應(yīng)該有技術(shù)那邊填寫，具體落實(shí)到某個(gè)人身上，才能更好的解決到問題。

以上就是測(cè)試用例的具體填寫方法及作用。測(cè)試完了之后，記得進(jìn)行回歸測(cè)試以確保測(cè)試的意義。

延伸閱讀：

二、 為什么要寫測(cè)試用例

測(cè)試用例主要有以下六大作用：

方便理清測(cè)試思路，避免漏測(cè)有助于測(cè)試工作量的評(píng)估便于提前準(zhǔn)備測(cè)試數(shù)據(jù)相當(dāng)于工作日志，把控測(cè)試工作進(jìn)度方便進(jìn)行上線前的回歸測(cè)試便于測(cè)試工作的組織，提高測(cè)試效率，降低測(cè)試交接成本